AT513方阻測(cè)試儀

AT513 四探針方阻測(cè)試儀器，采用高性能 ARM 微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器采用全彩的 LCD 顯示屏，全數(shù)字鍵盤，搭配安柏儀器操作系統(tǒng)，使顯示更清晰，操作更方便。
AT513可根據(jù)長(zhǎng)度（0~10000mm），寬度（0~10000mm），間距（0~10000mm）算出F值功能。
AT513可在內(nèi)部存儲(chǔ) 10 組設(shè)置，外部 USB 磁盤也可存儲(chǔ) 10 組設(shè)置，方便不同規(guī)格調(diào)用。
AT513四探針方阻測(cè)試儀標(biāo)配 LAN接口、RS-232接口和RS-485 接口，使用 SCPI（Standard Command for Programmable Instrument 可程控儀器標(biāo)準(zhǔn)命令集）和 Modbus RTU 協(xié)議與計(jì)算機(jī)、PLC 或 WINCE 設(shè)備進(jìn)行通訊，高效完成遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集功能。
特征
AT513四探針法通過將電流和電壓測(cè)量分開，消除了接觸電阻的影響，從而提高了測(cè)量的精度。還能減少背景信號(hào)的干擾，特別是測(cè)量低電阻率材料時(shí)，背景信號(hào)的影響會(huì)被顯著降低。
四探針法僅需在樣品表面輕輕接觸，不會(huì)對(duì)樣品造成物理?yè)p傷，適用于各種敏感材料的測(cè)量。
四探針法適用于各種材料，包括金屬，半導(dǎo)體，絕緣體和復(fù)合材料。特別是對(duì)于薄膜材料，四探針法能準(zhǔn)確的測(cè)量其電阻率，不受樣品厚度影響。
儀器具有 2%的電阻率準(zhǔn)確度，測(cè)量范圍可到 200kΩ。